影響壓敏電阻或電阻率測(cè)試的設(shè)備因素為測(cè)試設(shè)備的泄漏.

測(cè)試設(shè)備的泄漏

在測(cè)試中，線(xiàn)路中絕緣電阻不高的連線(xiàn)，往往會(huì)不適當(dāng)?shù)嘏c被測(cè)試樣、取樣電阻等并聯(lián)，對(duì)測(cè)量結(jié)果可能帶來(lái)較大的影響。

為此怎樣來(lái)改善影響壓敏電阻測(cè)試的設(shè)備因素，請(qǐng)繼續(xù)往下看：為減小測(cè)量誤差，應(yīng)采用保護(hù)技術(shù)，在漏電流大的線(xiàn)路上安裝保護(hù)導(dǎo)體，以基本消除雜散電流對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響；

高電壓線(xiàn)由于表面電離，對(duì)地有一定泄漏，所以盡量采用高絕緣、大線(xiàn)徑的高壓導(dǎo)線(xiàn)作為高壓輸出線(xiàn)并盡量縮短連線(xiàn)，減少尖端，杜絕電暈放電；

采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測(cè)試臺(tái)和支撐體，以避免由于該類(lèi)原因?qū)е聹y(cè)試值偏低。